碳/碳化硅復合材料內部缺陷厚度測量方法

2015年

應用技術

中期階段

成果簡介

本發明公開了一種碳/碳化硅復合材料內部缺陷厚度測量方法，設計并制備厚度梯度變化的缺陷材料標樣，利用X射線照相檢測標樣，將照相底片掃描成電子圖片得到其灰度圖像；編程計算得到圖像各缺陷區域與無缺陷區域灰度的比值，建立缺陷厚度與對應灰度比值標定函數關系式；再利用標定函數去計算同種材料在相同檢測條件下缺陷的厚度，實現缺陷厚度的定量測量。本方法克服了傳統X射線照相無損檢測方法檢測缺陷厚度過程中使用黑...

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