全自動光學測厚儀

2014年

應用技術

成熟應用階段

成果簡介

本成果產品由本公司自主研發， 2012年08月29日取得了知識產權（實用新型專利：全自動光學測厚儀，ZL201120503590.1），技術背景：光學測厚儀是利用光學監控技術對物件厚度進行檢測的儀器，其前端裝置為模擬信號采集裝置，其作用是將物件的厚度變化轉換為光學領域的反射/透射率(即反射率或透射率)的變化，通過后端的數據處理后檢測出物件的厚度值。以光學零件真空鍍膜系統為例，對膜層厚...

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全自動光學測厚儀

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