干涉成像光譜儀的平場方法
成果概況
成果類別: | 應用技術 | 體現形式: | 新技術 | 課題來源: | 自選課題 |
起止時間: | 2007.01 至2008.01 | 研究形式: | 獨立研究 | 所處階段: | 初期階段 |
成果屬性: | 原始性創新 |
成果簡介
一種干涉成像光譜儀的平場方法,其將被平場干涉成像光譜儀的光軸對準平場光源的開口中心,通過圖像采集卡采集被平場干涉成像光譜儀輸出的干涉圖像數據,送至計算機進行處理,計算平場校正矩陣,分析平場不確定度,獲得平場校正矩陣。本發明解決了技術背景中修正的全面性及效果相對較差的技術問題。本發明主要用于空間調制型干涉成像光譜儀整機的平場,以消除系統誤差,可以一次性地修正各種因素造成的像元間響應的不一致性。本發明同樣適用于飛機或衛星搭載的干涉成像光譜儀在飛行過程中的利用地面標準輻射場的平場。
應用前景
主要應用行業: | 制造業 | 知識產權形式: | 專利 |
應用狀態: | 產業化應用 | 擬轉化方式: |
單位概況
完成單位: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 | ||||
單位地址: | 陜西省西安市高新區新型工業園信息大道17號 | ||||
單位電話: | 029-88887556 |
聯系方式
聯系人: | 趙葆常 | 聯系人電話: | 029-88484619 | 聯系人Email: |
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