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     本發明公開了一種數字干涉條紋分析方法及光學元件面形檢測裝置。其主要技術特點是，首先給原始的數字干涉條紋圖像乘以窗函數，以擴展干涉條紋圖像頻譜的主瓣寬度并抑制其頻譜的旁瓣；然后，再對數字干涉條紋圖像進行傅里葉分析，其間采用質點組質心坐標計算法對數字干涉條紋的空間載頻進行估計，并用于數字干涉條紋圖像的移頻，從而有效地抑制了柵欄效應給測量帶來的誤差。此外，基于本發明數字干涉條紋分析方法構建的光學元件面形檢測裝置能夠對空間載頻不是頻率采樣間隔整數倍時的干涉條紋進行高精度分析，而且檢測裝置結構組成簡單，測量實時性好。