基于顯微視覺的精密檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)及應(yīng)用
成果概況
成果類別: | 應(yīng)用技術(shù) | 體現(xiàn)形式: | 新技術(shù) | 課題來(lái)源: | 橫向委托 |
起止時(shí)間: | 2010.07 至2014.03 | 研究形式: | 獨(dú)立研究 | 所處階段: | 中期階段 |
成果屬性: | 原始性創(chuàng)新 |
成果簡(jiǎn)介
“基于顯微視覺的精密檢測(cè)”涉及光學(xué)、電子學(xué)、控制科學(xué)、計(jì)算機(jī)科學(xué)等眾多學(xué)科,是一門新興的綜合性前沿學(xué)科,具有廣泛的應(yīng)用前景,可應(yīng)用于工業(yè)、生物醫(yī)學(xué)、軍事等眾多領(lǐng)域。
本項(xiàng)目主要針對(duì)傳統(tǒng)視覺測(cè)量與控制的方法在顯微視覺精密檢測(cè)應(yīng)用中的不足,研究顯微視覺在精密檢測(cè)中的瓶頸問(wèn)題與關(guān)鍵技術(shù),包括基于顯微視覺敏感自由度的主動(dòng)標(biāo)定方法、多路顯微視覺下的相對(duì)位姿檢測(cè)方法、明暗場(chǎng)成像方法的融合等,并成功應(yīng)用于精密多自由度微裝配系統(tǒng)與大口徑精密光學(xué)元件表面損傷檢測(cè)中,為顯微視覺引導(dǎo)下的復(fù)雜微器件的空間高精度裝配提供了創(chuàng)新性的理論與方法。大口徑精密光學(xué)元件表面損傷檢測(cè)中的應(yīng)用,切實(shí)解決了國(guó)內(nèi)精密大口徑元件檢測(cè)依賴人工的現(xiàn)狀。
本項(xiàng)目一直沿著“以基礎(chǔ)理論和方法研究為先導(dǎo),以獲取核心關(guān)鍵技術(shù)為重點(diǎn),以關(guān)鍵技術(shù)的有效應(yīng)用為最終目標(biāo)”這一思路開展工作。結(jié)合先進(jìn)的信息處理、控制與通訊技術(shù),提出了基于顯微視覺的精密檢測(cè)技術(shù)與方法,并成功推廣應(yīng)用。項(xiàng)目取得的主要?jiǎng)?chuàng)新成果如下:
1、提出了基于顯微視覺敏感自由度的主動(dòng)標(biāo)定方法,充分利用顯微視覺系統(tǒng)在高精度測(cè)量環(huán)境下存在超/微景深的特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了顯微視覺系統(tǒng)與運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的準(zhǔn)確標(biāo)定,進(jìn)而建立了顯微測(cè)量中2D圖像特征變化量與運(yùn)動(dòng)坐標(biāo)系下3D笛卡爾空間運(yùn)動(dòng)量之間的關(guān)系。該方法的應(yīng)用解決了精密多自由度微裝配系統(tǒng)集成過(guò)程中復(fù)雜校準(zhǔn)的難題,簡(jiǎn)單的標(biāo)定步驟即可建立運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)與測(cè)量系統(tǒng)間的準(zhǔn)確關(guān)系;另一方面,為極小景深下的高精密相對(duì)位姿測(cè)量提供了創(chuàng)新性的解決方法。
2. 提出了一系列基于多路顯微視覺的相對(duì)位姿檢測(cè)方法,基于敏感自由度的主動(dòng)標(biāo)定方法及圖像雅可比主動(dòng)標(biāo)定方法,融合多路顯微視覺系統(tǒng)的圖像特征,實(shí)現(xiàn)了微零件三維笛卡爾空間的相對(duì)位姿測(cè)量、自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)與過(guò)冗配合的自動(dòng)裝配。該方法成功應(yīng)用于單目顯微視覺引導(dǎo)下10μm微管與12μm微球孔的3D笛卡爾空間的高精度自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)與插入。這一系列相對(duì)位姿檢測(cè)方法為顯微視覺引導(dǎo)下的復(fù)雜微器件的空間高精度裝配提供了創(chuàng)新性的理論與方法。
3. 提出了顯微視覺下明暗場(chǎng)成像方法的融合及相應(yīng)的精密檢測(cè)方法,明場(chǎng)成像具有成像細(xì)節(jié)豐富,測(cè)量準(zhǔn)確但效率低的特點(diǎn)。暗場(chǎng)成像具有掃描速度快,可觀測(cè)遠(yuǎn)小于分辨率的損傷,但由于非線性散射效應(yīng)無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量的特點(diǎn)。結(jié)合二者優(yōu)點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了大口徑光學(xué)元件表面瑕疵的自適應(yīng)、快速、精確檢測(cè)。利用明場(chǎng)顯微視覺的小景深實(shí)現(xiàn)對(duì)大口徑光學(xué)元件的姿態(tài)的自適應(yīng)測(cè)量無(wú)需復(fù)雜的機(jī)械校準(zhǔn);利用暗場(chǎng)成像系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)大口徑光學(xué)元件的快速掃描;基于暗場(chǎng)損傷圖像,實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)成像系統(tǒng)對(duì)暗場(chǎng)損傷圖像的二次定位與準(zhǔn)確檢測(cè)。該方法解決了適應(yīng)性、準(zhǔn)確性、效率三個(gè)核心問(wèn)題,該方法的應(yīng)用切實(shí)解決了國(guó)內(nèi)精密大口徑元件檢測(cè)依賴人工的現(xiàn)狀。
本項(xiàng)目突破了一系列的關(guān)鍵技術(shù)和應(yīng)用難題,發(fā)表高質(zhì)量學(xué)術(shù)論文26篇,出版專著一部,取得授權(quán)的國(guó)家發(fā)明專利11項(xiàng),實(shí)用新型1項(xiàng)。關(guān)鍵技術(shù)已在中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心得到應(yīng)用,創(chuàng)造直接經(jīng)濟(jì)效益元2.5萬(wàn)元,間接經(jīng)濟(jì)效益5億元,取得了很好的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
應(yīng)用前景
主要應(yīng)用行業(yè): | 制造業(yè) | 知識(shí)產(chǎn)權(quán)形式: | 專利 |
應(yīng)用狀態(tài): | 小批量或小范圍應(yīng)用 | 擬轉(zhuǎn)化方式: |
單位概況
完成單位: | 中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所 | ||
單位地址: | 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路95號(hào) | ||
單位電話: | 010-62551575 |
聯(lián)系方式
聯(lián)系人: | 王東琳 | 聯(lián)系人電話: | 010-82544480 | 聯(lián)系人Email: | wei.han@ia.ac.cn |
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