采用熔融玻璃片法制樣,建立了測(cè)定鋯英砂中ZrO2、HfO2、SiO2、Al2O3、TiO2、Fe2O3、CaO、MgO主次成分的X射線熒光光譜分析方法。以標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)與光譜純氧化鋯配制出鋯英砂標(biāo)樣系列解決了鋯英石標(biāo)準(zhǔn)樣品不足的問(wèn)題。采用理論α系數(shù)和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)相結(jié)合的方法校正基體效應(yīng),并對(duì)測(cè)量條件、熔融制樣條件進(jìn)行了探討。方法用于鋯英砂中主、次成分的測(cè)定,結(jié)果與化學(xué)分析法吻合,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD,n...
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