一種測試交換芯片及相關高速鏈路的方法

2004年

應用技術

成果簡介

本發明公開了一種測試交換芯片及相關高速鏈路的方法，應用于內部的自測試模塊不能長時間連續進行自測試的交換芯片，包括以下步驟：啟動交換芯片內部的自測試模塊進行自測試；間隔所述交換芯片規定的測試時間，判斷本次自測試是否出錯，如果出錯，將錯誤次數和測試次數加1，并重新啟動自測試，否則，只將測試次數加1，反復進行以上步驟，并在測試達到預定次數時報告一次測試次數和錯誤次數的統計信息。本發明方法在交換芯...

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一種測試交換芯片及相關高速鏈路的方法

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