2007年 應(yīng)用技術(shù)
成熟應(yīng)用階段 一種測量雙折射單軸晶體波片厚度的方法和裝置，該方法包括以下步驟：
1.將待測波片置于透射軸方向平行放置或正交放置的起偏器和檢偏振的光路之中，構(gòu)成一個“三明治”式結(jié)構(gòu)； 2.轉(zhuǎn)動待測波片的光軸方向與起偏器的透射軸夾角為3.14/4或3X3.14/4； 3.開啟白光光源，出射的連續(xù)波長的平行光束依次通過限束光闌、起偏器、待測波片、檢查器和分光鏡后，經(jīng)... 
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