2005年 應(yīng)用技術(shù)
主要研究第二代居民身份證專(zhuān)用芯片模塊的可靠性安全性，包括芯片EEPROM的可靠性、ESD分析設(shè)計(jì)與評(píng)估、芯片的失效分析與預(yù)測(cè)、芯片應(yīng)用安全性、芯片安全性設(shè)計(jì)與評(píng)估、卡片與讀卡機(jī)具的相關(guān)機(jī)、芯片設(shè)計(jì)與模塊工藝優(yōu)化等關(guān)鍵技術(shù)。通過(guò)對(duì)上述關(guān)鍵技術(shù)研究，為第二代身份證的安全可靠應(yīng)用提供有力保障，產(chǎn)生更大的社會(huì)經(jīng)濟(jì)效益。...
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